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SPSresearch是一个紧凑的台式非接触电学表征工具,用于离线生产控制或研发,为先进材料研发和QA/QC检查的高灵敏度、高分辨率表面光电压谱测量仪器,在稳态或短脉冲激励下,在 的注入范围内测量样品的表面光电压(SPV),并在 的波长范围内连续扫描。这使得任何光活性样品的真正光谱测量能够以一种可靠的方式进行。自动的样品识别和参数设置使其能够轻松地适应各种不同的样品,包括外延层和经过各种加工步骤的晶圆,从原生材料到成品器件。
SPSresearch特征:
灵敏度:达到μV 灵敏度和高达7个数量级的信号分辨率
测量速度:1mm分辨率150mm晶圆,<5分钟/点
时间分辨率:10 ns ~100 ms
光学探头:激光驱动光源,强度可调,输出波长在200nm到3000nm之间。谱宽< 10 nm。
可靠性:台式仪器与内置单色仪的高可靠性和正常运行时间> 99%
配置选项:
脉冲宽度和高度调制
集成加热台(20–250 °C)
光斑尺寸调节
偏置光
电阻率测量(wafers)
参考晶圆(Si)
技术规格:
样品尺寸 | 粉末~直径高达200 mm晶圆 | ||
激励装置 | 激光器驱动的光源 | ||
材料 | 任何光活性材料 (联系我们咨询您的材料) | ||
测量能力 | 时间分辨和相位调制表面光电压测量 | ||
设备尺寸 | 680 x 680 x 680 mm, 重量:毛重100 kg | ||
电力 | 100-250 V, 50/60 Hz, 5 A | ||
SPSresearch是一个紧凑的台式非接触电学表征工具,用于离线生产控制或研发,为先进材料研发和QA/QC检查的高灵敏度、高分辨率表面光电压谱测量仪器,在稳态或短脉冲激励下,在 的注入范围内测量样品的表面光电压(SPV),并在 的波长范围内连续扫描。这使得任何光活性样品的真正光谱测量能够以一种可靠的方式进行。自动的样品识别和参数设置使其能够轻松地适应各种不同的样品,包括外延层和经过各种加工步骤的晶圆,从原生材料到成品器件。
SPSresearch特征:
灵敏度:达到μV 灵敏度和高达7个数量级的信号分辨率
测量速度:1mm分辨率150mm晶圆,<5分钟/点
时间分辨率:10 ns ~100 ms
光学探头:激光驱动光源,强度可调,输出波长在200nm到3000nm之间。谱宽< 10 nm。
可靠性:台式仪器与内置单色仪的高可靠性和正常运行时间> 99%
配置选项:
脉冲宽度和高度调制
集成加热台(20–250 °C)
光斑尺寸调节
偏置光
电阻率测量(wafers)
参考晶圆(Si)
技术规格:
样品尺寸 | 粉末~直径高达200 mm晶圆 | ||
激励装置 | 激光器驱动的光源 | ||
材料 | 任何光活性材料 (联系我们咨询您的材料) | ||
测量能力 | 时间分辨和相位调制表面光电压测量 | ||
设备尺寸 | 680 x 680 x 680 mm, 重量:毛重100 kg | ||
电力 | 100-250 V, 50/60 Hz, 5 A | ||

