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C60-40 离子源系统

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C60-40是目前性能较高的C60光束,具有300纳米的光斑尺寸和高达1毫安的束流。从生物医学应用到聚合物科学和冶金,C60-40都可以做到这一点。得益于与其他C60离子束相同的均匀溅射,但由于更高的束能量,C60-40具有难以置信的精细斑点和更高的蚀刻率,是一种用于广泛应用的极其强大的分析工具。
参数品牌:IONOPTIKA
产品参数
品牌:IONOPTIKA
型号:C60-40
起订量:1
单位:
包装说明:标准包装
我知道了
在线客服
产品详情

简介

60-40是目前性能较高的C60光束,具有300纳米的光斑尺寸和高达1毫安的束流。

从生物医学应用到聚合物科学和冶金,C60-40都可以做到这  一点。得益于与其他C60离子束相同的均匀溅射,但由于更高 的束能量,C60-40具有难以置信的精细斑点和更高的蚀刻率,是一种用于广泛应用的极其强大的分析工具。 

C60-40是一款出色的全能型产品,Ionoptika销售的每台J105SIMS仪器中都包含C60-40。

       

 

主要参数


主要应用                分析            
光斑尺寸                300 µm                
扫描范围                1 x 1 mm                
能耗范围                10 – 40 kV                
电流范围                1 nA                
法兰至机头长度                168 ± 5 mm               
推荐工作距离                22 ± 2 mm                
电源装置                6U x 19’’ rack mountable unit    
电源要求                110-240VAC 13A 50/60Hz                
软件要求                        PC running Windows 10 or later                   
集成法兰规格                NW 63 CF                














特点:  

◇  用于 SIMS 分析的出色的全部方位离子束

◇  小光斑尺寸可达 300 nm

◇  电流高达 1 nA

◇  Wien滤波器,用于在直流和脉冲操作过程中进行质量滤波

◇  提供快速脉冲、脉冲串、光栅和二次电子检测功能

◇  闸阀,便于快速维修





     

应用技术: 

下图显示了C60-40在正离子模式下获得的半导体堆栈的3D SIMS图像。样品由InSb、Al和GaAs层组成,覆盖在保护性光刻胶层中。

这种软有机、无机和硬金属层的结合对于大多数其他离子束来说是极其困难的。C60-40是这一棘手应用的理想选择,因 为它在不同材料上具有一致的溅射速率。C60-40与300  nm的光斑尺寸相结合,是一种强大的光束,无论您使用何种类型的样品,都能在2D和3D中提供较高分辨率。


         

               



        

   




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C60-40是目前性能较高的C60光束,具有300纳米的光斑尺寸和高达1毫安的束流。从生物医学应用到聚合物科学和冶金,C60-40都可以做到这一点。得益于与其他C60离子束相同的均匀溅射,但由于更高的束能量,C60-40具有难以置信的精细斑点和更高的蚀刻率,是一种用于广泛应用的极其强大的分析工具。
品牌:IONOPTIKA
型号:C60-40
起订量:1
单位:
包装说明:标准包装
021-34685181
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简介

60-40是目前性能较高的C60光束,具有300纳米的光斑尺寸和高达1毫安的束流。

从生物医学应用到聚合物科学和冶金,C60-40都可以做到这  一点。得益于与其他C60离子束相同的均匀溅射,但由于更高 的束能量,C60-40具有难以置信的精细斑点和更高的蚀刻率,是一种用于广泛应用的极其强大的分析工具。 

C60-40是一款出色的全能型产品,Ionoptika销售的每台J105SIMS仪器中都包含C60-40。

       

 

主要参数


主要应用                分析            
光斑尺寸                300 µm                
扫描范围                1 x 1 mm                
能耗范围                10 – 40 kV                
电流范围                1 nA                
法兰至机头长度                168 ± 5 mm               
推荐工作距离                22 ± 2 mm                
电源装置                6U x 19’’ rack mountable unit    
电源要求                110-240VAC 13A 50/60Hz                
软件要求                        PC running Windows 10 or later                   
集成法兰规格                NW 63 CF                














特点:  

◇  用于 SIMS 分析的出色的全部方位离子束

◇  小光斑尺寸可达 300 nm

◇  电流高达 1 nA

◇  Wien滤波器,用于在直流和脉冲操作过程中进行质量滤波

◇  提供快速脉冲、脉冲串、光栅和二次电子检测功能

◇  闸阀,便于快速维修





     

应用技术: 

下图显示了C60-40在正离子模式下获得的半导体堆栈的3D SIMS图像。样品由InSb、Al和GaAs层组成,覆盖在保护性光刻胶层中。

这种软有机、无机和硬金属层的结合对于大多数其他离子束来说是极其困难的。C60-40是这一棘手应用的理想选择,因 为它在不同材料上具有一致的溅射速率。C60-40与300  nm的光斑尺寸相结合,是一种强大的光束,无论您使用何种类型的样品,都能在2D和3D中提供较高分辨率。


         

               



        

   




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